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涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹及試驗(yàn)方法

時(shí)間:2022-12-19 09:30:02 作者:河北航信儀器 點(diǎn)擊:

到現(xiàn)今為止,市面上測(cè)厚儀無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已成為加工工業(yè)為用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)和保證產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的**手段。測(cè)厚儀大致有以下三種:應(yīng)用磁性測(cè)量法、渦流測(cè)量法以及超聲波測(cè)量法的三類(lèi)測(cè)厚儀。

涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹及試驗(yàn)方法(圖1)

一、測(cè)厚儀無(wú)損檢測(cè)中常用的試驗(yàn)方法方法一般有

1.磁性測(cè)量法

適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

1.渦流測(cè)量法

適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

2.超聲波測(cè)量法

適用于各種板材和各種加工零件的**測(cè)量,也可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器在使用過(guò)程中受腐蝕后的減薄程度進(jìn)行監(jiān)測(cè)。

二、四種試驗(yàn)方法測(cè)厚儀的工作試驗(yàn)方法

磁性測(cè)量試驗(yàn)方法測(cè)厚儀又可分為磁吸力試驗(yàn)方法測(cè)厚儀和磁感應(yīng)試驗(yàn)方法測(cè)厚儀兩種,渦流測(cè)量試驗(yàn)方法測(cè)厚儀則只有電渦流測(cè)厚儀一種。

1.磁吸力試驗(yàn)方法測(cè)厚儀是利用**磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成**比例關(guān)系來(lái)測(cè)量覆層的厚度的,這個(gè)距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可以進(jìn)行測(cè)量。

2.磁感應(yīng)試驗(yàn)方法測(cè)厚儀是利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測(cè)定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測(cè)頭被放在被測(cè)物上后,儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流,磁通的大小影響到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。

3.電渦流測(cè)厚儀是利用高頻交流電在作為測(cè)頭的線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時(shí),就在金屬材料中形成渦流,這個(gè)渦流隨著與金屬體的距離減小而增大,并且會(huì)影響探頭線圈的磁通,此反饋?zhàn)饔昧烤褪潜硎咎筋^與基體金屬之間間距大小的一個(gè)量值。

4.電渦流法測(cè)頭用在非鐵磁金屬基體上測(cè)量覆層厚度,所以通常我們稱該測(cè)頭為非磁性測(cè)頭。與磁性測(cè)量試驗(yàn)方法比較,它們的電試驗(yàn)方法基本一樣,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,測(cè)試電流的頻率大小不同,信號(hào)大小、標(biāo)度關(guān)系不同。在近兩年的測(cè)厚儀中,通過(guò)不斷改進(jìn)測(cè)頭結(jié)構(gòu),再配合微電腦技術(shù),由自動(dòng)識(shí)別不同測(cè)頭來(lái)調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測(cè)試電流和改變標(biāo)度變換軟件,終于使兩種不同類(lèi)型的測(cè)頭接在同一臺(tái)測(cè)厚儀上,基于同一思想,可配接達(dá)10種測(cè)頭的測(cè)厚儀也應(yīng)運(yùn)而生。

5.超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗(yàn)方法來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)**測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

雖然幾種測(cè)厚儀在校準(zhǔn)中測(cè)量點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇上有很多不同,但在操作中都有一些相同的需要注意的地方,如每種測(cè)厚儀對(duì)基體的表面曲率和***小厚度都有一個(gè)下限的規(guī)定,在實(shí)際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進(jìn)行操作;測(cè)量中測(cè)頭的取向和壓力也會(huì)對(duì)結(jié)果有影響,要保持測(cè)頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能小;另外,校準(zhǔn)覆層測(cè)厚儀時(shí)還要注意外界磁場(chǎng)和基體剩磁的干擾,校準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀時(shí)要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。





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