一、概述
D型磁粉靈敏度標準試片，適用于零部件的磁粉探傷，在直檢中對幾何形復雜及不同材質(zhì)的工件，可正確的選擇磁化規(guī)范，可檢查探傷設備及磁懸液的性能，在磁粉探傷中可以避免漏檢，正確地知道探傷工所的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度所有質(zhì)量?？蓮V泛應用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領域。
C型磁粉靈敏度標準試片，適用于探傷面窄小，曲率半徑較小，不適用于A1型試片的情況下，可使用C型試片?？蓮V泛應用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領域。
A1型磁粉靈敏度標準試片，適用于連續(xù)磁粉探傷的驗證及工作表面磁場強度的方向和大小，驗證磁粉探傷的綜合性能。可廣泛應用于壓力容器、汽車零件、船舶制造、鑄、鍛、焊件、石油管道、發(fā)電設備及金屬焊接件、陶瓷、塑料、玻璃等領域。
二、包裝
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