【***** 使用手冊】光譜是物質(zhì)的一種“指紋”，是其與生俱來的“身份證”，而作為分辨光波的神奇“眼睛”，光譜儀能準確測量物質(zhì)“指紋”，從而“一眼洞穿”其化學(xué)成分和相對含量。作為人類物質(zhì)成分分析重要幫手，光譜儀在工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用?！　射線熒光分析儀是RoHS指令中有害元素檢測的常用儀器，又分為能量色散和波長色散兩類，也就是我們俗稱的能譜儀和波譜儀，在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。在RoHS指令檢測中常用的是能量色散型X射線熒光分析儀。能量色散型X射線熒光分析儀擁有快速檢測、分析的優(yōu)勢，同時配備無需液氮型電子制冷檢測器，在實現(xiàn)降低運作成本和更易維護的同時，也具備了高可信性分析和自動化分析能力。且根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，**可以應(yīng)對RoHS指令中所限制的有害元素的篩選分析。　　X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉(zhuǎn)動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉(zhuǎn)化為電能，常用的有蓋格計數(shù)管、正比計數(shù)管、閃爍計數(shù)管、半導(dǎo)體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯(lián)機處理而得到被測元素的含量。 X射線熒光光譜儀的試驗方法

　　X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的**尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

　　X射線熒光光譜儀的基本試驗方法：

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。

　　X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

　　波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點。