涂層測厚儀也叫覆層測厚儀,是一種用于測量金屬底材涂層厚度的專用儀器。由于涂層測厚儀品牌眾多,因此其操作方法也會有所差異。但總體而言,涂層測厚儀的操作步驟還是大同小異的。
涂層測厚儀的使用
1.輕按電源鍵3-6,接通整機電源后,進入測量狀態(tài)。
注意:本儀器在打開電源時,自動進行自檢。
為確保測量的準(zhǔn)確性,打開電源時的前后2秒鐘,**不要將測量探頭放在鐵基上,也不要將探頭靠近鐵基或其他磁性材料。
2.在確認校準(zhǔn)正確的前提下,就可開始測量。若對以前的校準(zhǔn)有所懷疑的話,應(yīng)再進行一次校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)的具體方法詳見儀器校準(zhǔn)部分。儀器一旦校準(zhǔn),校準(zhǔn)結(jié)果將自動存貯在儀器中,下次開機測量時,可不必再次進行校準(zhǔn),除非對測量的準(zhǔn)確性有懷疑。
3.捏住探頭前部約15mm處,將測量傳感器壓緊到被測涂層上,顯示器上的值即為待測涂層的測量值。
4.要進行下次測量,必須將測量傳感器提起到10厘米以上,然后再重復(fù)第3點。
5.如有必要,測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。需要注意的是,按加1鍵或減1鍵時,測量探頭**要遠離鐵基或其他被測體。
涂鍍層測厚儀測量數(shù)據(jù)的影響因素
薄涂層的測量準(zhǔn)確度和厚度沒有關(guān)系,是一個常數(shù),厚涂層的測量準(zhǔn)確度是一個近似恒定的分?jǐn)?shù)和厚度的乘積。
基體磁性的變化會影響測量的數(shù)據(jù),所以涂鍍層測厚儀校準(zhǔn)時要采用材質(zhì)和試樣基體相同的校準(zhǔn);采用待鍍產(chǎn)品做基體進行儀器校準(zhǔn),以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據(jù)。
涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量數(shù)據(jù)往往是不可靠的,這種效應(yīng)可能從不連續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
涂鍍層測厚儀測量曲面時,數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而明顯。
涂鍍層測厚儀探頭和試樣要保持清潔,因為外來的附著塵埃會影響測量的數(shù)據(jù)。
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【導(dǎo)讀】高溫超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗方法來進行厚度測量的; 當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭; 通過**測量超聲波
高溫超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射試驗方法來進行厚度測量的;
當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭;
通過**測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此試驗方法測量。
超聲波測厚儀操作指南
一般測量方法:
(1)在一點處用探頭進行兩次測厚,在兩次測量中探頭的分割面要互為90°,取較小值為被測工件厚度值。
(2)30mm多點測量法:
當(dāng)測量值不穩(wěn)定時,以一個測定點為**,在直徑約為30mm的圓內(nèi)進行多次測量,取蕞小值為被測工件厚度值。
2、**測量法:在規(guī)定的測量點周圍增加測量數(shù)目,厚度變化用等厚線表示。
3、連續(xù)測量法:用單點測量法沿指定路線連續(xù)測量,間隔不大于5mm。
4、網(wǎng)格測量法:
在指定區(qū)域劃上網(wǎng)格,按點測厚記錄。此方法在高壓設(shè)備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測中廣泛使用。
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【導(dǎo)讀】即使相同的涂層測厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測量出來的數(shù)據(jù)也可能會存在較大差別,這是因為測量人員因素、測量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面
即使相同的涂層測厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測量出來的數(shù)據(jù)也可能會存在較大差別,這是因為測量人員因素、測量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。
使用前應(yīng)仔細閱讀儀器使用說明書,不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同,因此使用前必須先仔細閱讀儀器的使用說明書,避免誤操作造成測量數(shù)據(jù)的錯誤。
注意金屬基體材質(zhì):
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,這都會對測量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。
注意檢測試件形狀:
在實際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會對實際測量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測結(jié)果就會與實際厚度有差別。一些儀器對試件表面形狀的陡變**敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量的數(shù)值會不可靠,實際測量時應(yīng)選擇遠離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時考慮了***小曲率半徑,測量時仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進行測量。
以上也是在選擇測厚儀器時需要考慮***小曲率半徑、***小測量面積、***小基體厚度的原因。
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